P系列可滿足以下類型用戶的需求:小型鍍件領域,如緊固件,連接器或PCB需要測試多個樣品的多個位置期望在多個樣品上實現自動化測量樣品尺寸和應用經常變化保證符合IPC-4552A,4553A,4554和4556ASTM B568,DIN 50987和ISO 3497渴望升級舊的XRF的性能和效率–并獲得豐厚的以舊換新獎勵!P系列提供了測量各種樣品尺寸,形狀和數量的靈活性。 它配備了一個高精度可編程XY平臺,可在一個固定階段提供多種便利因素。 操作員可以使用鼠標和軟件界面輕松移動到所需的測量位置。 可以創建多點程序,通過單擊按鈕自動測量多個樣品位置。 精確控制可用于測試關鍵區域。 通過多點編程可以獲得更大的采樣量。標準配置包括一個4位置多準直器組件和一個用于測量凹陷區域的變焦相機。 可以為應用定制準直器和焦距。 固態PIN探測器隨附我們的長壽命微焦點X射線管。 SDD檢測器是可選的。產品規格機型對比元素測量范圍:13號鋁元素到92號鈾元素X射線管:50 W(50kV和1mA)微聚焦鎢鈀射線管探測器:190eV及以上分辨率的Si-PIN固態探測器分析層數及元素數:5層(4層+基材) 每層可分析10種元素,成分分析最多可分析25種元素濾波器/準直器:4位置一次濾波器/ 4種規格準直器焦距:可變焦數字脈沖處理:4096 多通道數字處理器,自動死時間和逃逸峰校正計算機:聯想商用i5控制電腦(Win10 簡體中文),顯示器,彩色噴墨打印機相機:1/4''(6mm)CMOS-1280×720 VGA分辨率視頻放大倍率:30x:標準45x:可選電源:150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz重量:32-50kg馬達控制/可編程XY平臺桌子尺寸:381mm(15“)x 340mm(13”)| 行程:152毫米(6英寸)x 127毫米(5英寸)延伸可編程XY平臺:桌子尺寸:635mm(25“)x 635mm(25”)| 行程:254毫米(10英寸)x 254(10英寸)現在可用擴展舞臺選擇樣品倉尺寸:高度:140mm(5.5"),寬度:310mm(12"),深度:340mm(13")外形尺寸:高度:450毫米(18英寸),寬度:450毫米(18英寸),深度:600毫米(24英寸)